Altair StarVision PRO SoC 設計驗證的 Debug 調試工具 

現代半導體調試佔整個開發過程的四分之一以上，並且需要最密集的工程工作。 隨著系統單晶片 (SoC) 裝置變得越來越大、越來越多樣化（包含類比元件、第三方 IP 和多核心處理器），偵錯工具必須適應這些新要求。

StarVision PRO 代表了先進電子 SoC 調試解決方案的最先進水平。 Concept Engineer 公司領先的可視化和檢測技術的結合可實現快速因果分析，從而實現高效的功能分析。 這種先進且獨特的混合模式調試平台將我們市場領先的 SpiceVision PRO 工具中的 SPICE 和電晶體分析與我們先進的 RTLvision PRO 工具中的數位 RTL 和門無縫結合。 它是完全可自訂的，並包含許多其他調試解決方案所不具備的高級功能，可以處理最複雜的 SoC 平台。

• 功能強大的通用調試器，可快速解決因果關係

• 有效的混合模式、RTL、Gate、SPICE 和佈局後級調試

• 具有專業 SoC 和 IP 功能的可自訂工具平台

進階的通用 Debug

基於 IP 的 SoC 調試

使用第三方 IP 需要理解不熟悉的程式碼。 Concept 的視覺化技術使 SoC 中不熟悉的部分變得容易理解，從而實現快速 IP 整合和問題解決。 由於 StarVision PRO 支援多種不同的資料格式，工程師可以在一個易於使用的調試駕駛艙內探索、分析和調試幾乎所有 SoC 和 IP 構建塊。

路徑提取和邏輯錐視窗

可自訂的路徑提取引擎可以自動識別和提取設計中的關鍵路徑，從而可以輕鬆追蹤從觀察點到實際原因的錯誤。 還可以顯示可配置的邏輯錐視窗以快速檢查磁碟機邏輯。 這兩個功能提供了快速的因果觀察，這是加速調試的核心。

輕鬆的設計探索

利用Concept領先的視覺化技術，互動式設計導覽視窗僅顯示與原始原始碼（RTL、網表、SPICE）和模擬結果相關的設計關鍵部分的原理圖片段。

摘要 SoC 視圖

當今的 SoC 包含無數的 IP 模組和複雜的互連，其複雜性使得工程師很難理解組件結構和互動。 StarVision PRO 自動產生複雜設計部分的顯示，顯示具有重要資訊和結構的整體功能塊。 這提供了正在研究的 SoC 的快速概覽，可以立即翻轉以顯示抽像或詳細資訊。

模擬、混合模式和電晶體級調試

RTL、Gate、SPICE 調試和視覺化的整合

在 SoC 設計中，工程師需要在不同的抽象層級上工作，例如 RTL、閘、電晶體、模擬和寄生。 StarVision PRO 提供完整的模擬調試和分析，與利用波形、原理圖和其他顯示的數位調試相結合。 StarVision PRO 使工程師能夠找到類比和數位電路相遇的連接點，並進行檢查以確保乾淨的「過渡」。

自動邏輯辨識

內建自動邏輯辨識引擎從純 SPICE 等級網表建立數位邏輯符號，以便輕鬆進行電晶體級設計探索和分析。

用於佈局後調試的寄生分析

可以直觀地分析和顯示寄生網路。 SPICE 網表片段可以自動建立或修剪，以便進一步偵錯關鍵電路部分。

專業功能和客製化特性

時脈樹提取

時脈訊號通常是複雜 SoC 設計中問題的根源。 StarVision PRO 自動擷取和分析時鐘樹，並提供時鐘網路和網域的即時、可設定視圖。 可以自動擷取和分析時脈域交叉（CDC）邏輯。

用戶特定自訂

為 StarVision PRO 的各個方面提供 API 訪問，允許在 TCL 中輕鬆編碼和執行廣泛的自訂和專業功能。 StarVision PRO 提供了許多 UserWare 範例。

UserWare 外掛機制

為了讓組織能夠輕鬆地在組織內管理和部署自訂工具功能，StarVision PRO 配備了智慧型 UserWare 外掛機制，可以非常輕鬆地在開發團隊和組織內新增和交換新的工具功能。

C Code 客製化

除了 Tcl UserWare 介面之外，還提供了 C API，允許將應用程式特定的 C 程式碼捆綁到偵錯器中。 這允許最終用戶添加新的工具功能，並能夠完全存取工具資料庫和內部資料結構，並提供廣泛的資料迭代和修改。 已編碼到該工具中的應用程式範例包括 linting、網表修剪和 FPGA 分區。

波形檢視器和訊號追蹤

StarVision PRO 配備完全整合的數位波形瀏覽器，並支援原始碼、原理圖視圖和波形視窗中的互動式訊號追蹤。 StarVision PRO 將模擬輸出編譯到高效能資料庫中，以加速波形瀏覽和訊號追蹤。

StarVision PRO 支援的平台

x86_64 系統上的 Linux 和 Windows。

StarVision PRO 產品選項

• Virtuoso/SKILL 匯出：允許將原理圖和原理圖片段匯出到 Cadence 設計工具平台，以便在 Cadence 工具流程中進一步最佳化、重複使用或偵錯。

• 模擬波形檢視器：允許 SPICE 模擬資料的可視化以及原理圖視圖和波形視圖之間的交叉探測，以方便波形瀏覽和訊號追蹤。

快速了解 StarVision PRO 軟體特色與優勢

超快速 HDL 讀取器和動態圖形

圖形表示使理解、調試、更改和優化 SystemVerilog、VHDL 和 Verilog 程式碼變得更加容易

來自 SPICE 網表的原理圖

原理圖為複雜電路提供了更輕鬆、更快速的調試。 支援的方言包括 SPICE、HSPICE、Spectre、Calibre、CDL、Eldo 和 PSPICE。

64位元資料庫

更高的性能和更大的容量，適用於超大型設計

強大的圖形使用者介面

多個視圖，包括樹、原理圖、波形和來源文件，以及不同視圖之間的拖放以增強電路理解

錐窗

增量原理圖導航可輕鬆進行設計探索並降低複雜性

Tcl 使用者軟體 API

允許與工具流程連接並定義電氣規則檢查

電路片段儲存

電路網表可以儲存為 SPICE、Verilog 或 SPEF 文件，以便將來作為 IP 重新使用，或用於部分仿真

自動時鐘樹和時鐘域提取和可視化

快速偵測並解決時脈域問題

完全支援混合語言和混合訊號設計

設計人員可以輕鬆開發和調試當今最複雜的異質 SoC 和 IP（SystemVerilog、Verilog、VHDL、SPICE、HSPICE...）

寄生分析功能

允許寄生網路（DSPF、RSPF、SPEF）的可視化、分析和修剪，並提供導出 SPICE 網表以進行關鍵電路片段模擬的功能。

想了解更多資訊，或有任何相關需求，歡迎與我們聯繫。

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